讓你秒懂局放測(cè)試儀的術(shù)語介紹

       很多人對(duì)局部放電測(cè)試儀有一些了解，在進(jìn)行局放試驗(yàn)的時(shí)候經(jīng)常會(huì)涉及到一些相關(guān)術(shù)語，下面國(guó)電中星簡(jiǎn)單為您介紹一下，讓您秒懂局放測(cè)試儀。

一、局部放電

        局部放電是指在絕緣的局部位置放電，不會(huì)造成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。局部放電包含內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極尖端）三種放電形式。

二、電荷量q

        在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

三、視在放電量校準(zhǔn)器

        視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測(cè)儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出，而非直接測(cè)出，故此放電量稱為“視在放電量”。

四、檢測(cè)阻抗

        檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

五、時(shí)間窗(門單元)

        時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用尤為重要。

        國(guó)電中星是電力檢測(cè)設(shè)備生產(chǎn)廠家，生產(chǎn)的JF-2002局部放電檢測(cè)儀銷量領(lǐng)先，并受到廣大用戶的一致好評(píng)。國(guó)電中星產(chǎn)品種類多，型號(hào)全，歡迎選購(gòu)！